CMP保持环质量检测标准——PEEK保持环内径公差±0.01mm平面度0.01mm耐磨寿命>500小时和不锈钢环磨削烧伤控制与电化学抛光质量的在线检测方案

发布时间:2026-07-22
关键词:半导体设备, CMP保持环, 质量检测
CMP保持环质量检测体系
CMP保持环根据材料分为PEEK塑料保持环、不锈钢保持环和陶瓷复合保持环。平面度和耐磨寿命是核心指标。
| 检测项目 | PEEK保持环 | 不锈钢保持环 | 陶瓷复合环 | 检测设备 |
|---|---|---|---|---|
| 内径公差 | ±0.01mm | ±0.01mm | ±0.02mm | CMM/气动量仪 |
| 外径公差 | ±0.02mm | ±0.02mm | ±0.03mm | CMM |
| 平面度 | ≤0.01mm | ≤0.01mm | ≤0.02mm | 激光干涉仪 |
| 粗糙度Ra | ≤0.4μm | ≤0.4μm | ≤0.2μm | 粗糙度仪 |
| 耐磨寿命 | >500h | >1000h | >2000h | 磨损测试台 |
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